| 品牌 | 昊量光電 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
EMI測(cè)試接收機(jī)(1Hz~50GHz)

一.EMI測(cè)試接收機(jī)簡(jiǎn)介
EMI測(cè)試接收機(jī)(1Hz~50GHz)是針對(duì)國(guó)內(nèi)外 GB/T 6113、GJB151 以及 CISPR 等系列電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)推出的一 款高性能認(rèn)證級(jí)接收機(jī)產(chǎn)品。它具有高靈敏度、高精度、高動(dòng)態(tài)范圍、高速度等特點(diǎn),支持 EMI 標(biāo)準(zhǔn)符合 性測(cè)試、FFT 時(shí)域快速測(cè)試、EMI 測(cè)試診斷、APD 測(cè)量、騷擾分析、全功能頻譜分析、實(shí)時(shí)頻譜分析等多種 功能,可應(yīng)用于電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)的預(yù)檢測(cè)測(cè)試和標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試領(lǐng)域,也可以作為通用高性能全功能頻譜分 析儀應(yīng)用于微波毫米波信號(hào)的測(cè)試領(lǐng)域中。
二.EMI測(cè)試接收機(jī)特點(diǎn)
電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試
標(biāo)配基于 FFT 的時(shí)域快掃功能,支持傳統(tǒng)步進(jìn)掃描測(cè)試和 FFT 時(shí)域快速測(cè)試
EMI 測(cè)試診斷
標(biāo)配 APD 測(cè)量
騷擾分析
高性能全功能的頻譜分析
實(shí)時(shí)頻譜分析
內(nèi)置多種電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)并支持用戶自行錄入
內(nèi)置低噪聲放大器、全波段預(yù)選器
高靈敏度、高精度、低相位噪聲、寬頻率范圍的信號(hào)接收
提供浪涌保護(hù)接收通道
兼容多廠家電磁兼容系統(tǒng)軟件和測(cè)試系統(tǒng)
電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試
典型的 EMI 測(cè)試界面
符合電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)的 FFT 時(shí)域測(cè)試和檢波器
內(nèi)置低噪聲放大器、全波段預(yù)選器
支持多達(dá)七種檢波方式同時(shí)測(cè)試
符合性測(cè)試結(jié)果自動(dòng)判別
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)限值線,并可進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)限值線編輯、傳輸因子編輯、掃描列表編輯等



FFT 時(shí)域快速測(cè)試
可提供 29.8MHz、390MHz FFT 并行處理帶寬
蕞高 16384 點(diǎn)的 FFT、并行濾波以及檢波
一次 FFT 步進(jìn)檢波通道數(shù) 50~13000,速度提升 30 倍~8000 倍
FFT 處理重疊率 93.75%以上,幅度誤CHA 0.4dB 以內(nèi)

EMI 測(cè)試診斷
超限峰值的自動(dòng)搜索
設(shè)置限值線余量,改變列表中的信號(hào)入選條件
可自動(dòng)對(duì)一系列頻率點(diǎn)進(jìn)行多檢波方式的測(cè)試

APD 測(cè)量
支持 200Hz、9kHz、120kHz 和 1MHz 測(cè)量帶寬
蕞小可測(cè)量概率 10-7
蕞大測(cè)量時(shí)間 120s

全功能頻譜分析
典型的頻譜分析界面
信道功率測(cè)量
占用帶寬測(cè)量
鄰道功率測(cè)量
實(shí)時(shí)頻譜分析
可提供 40MHz、200MHz、400MHz、1.2GHz 帶寬的實(shí)時(shí)頻譜分析,100%截獲概率(POI)信號(hào)蕞短持續(xù)時(shí) 間優(yōu)于 0.28μs,可用于脈沖信號(hào)、毛刺信號(hào)、間歇性信號(hào)等騷擾信號(hào)的捕獲分析。
高性能
高頻段覆蓋,全面支持低軌衛(wèi)星黃金頻段 Ku、Ka 頻率測(cè)試
高效率,基于 FFT 時(shí)域快速測(cè)試的預(yù)掃+列表定點(diǎn)終掃可快速定位干擾頻段
可達(dá)-163dbm 的典型顯示平均噪聲電平(放大器開)
+25dBm 的典型 TOI
載波 1GHz 頻偏 10kHz 時(shí),-135dBc/Hz 的典型相噪
自動(dòng)校準(zhǔn)技術(shù),高穩(wěn)定性高精度測(cè)量信號(hào)電平
多解決方案
支持電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試系統(tǒng)的集成方案
支持電路板級(jí)可視化干擾診斷測(cè)試系統(tǒng)集成方案
支持基于 TEM 小室的芯片級(jí)電磁兼容測(cè)試解決方案
| 型號(hào) | 名稱 | 頻率范圍 |
| 3916B | EMI 測(cè)試接收機(jī) | 1Hz~8.4GHz |
| 3916D | EMI 測(cè)試接收機(jī) | 1Hz~18GHz |
| 3916E | EMI 測(cè)試接收機(jī) | 1Hz~26.5GHz |
| 3916F | EMI 測(cè)試接收機(jī) | 1Hz~45GHz |
| 3916H | EMI 測(cè)試接收機(jī) | 1Hz~50GHz |
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